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CX-117A晶振测试仪

CX-117A晶振测试仪图片

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搜索关键字:CX-117A晶振测试仪

信息简介:CX-117A晶振测试仪

详细信息:
“CX-117A晶振测试仪”参数说明
元器件种类: 电子元件测试仪 型号: CX-117A
规格: CX-117A 商标: 创鑫
包装: 纸箱 产地: 深圳
显示方式: 数码管 包装: 纸箱
产量: 1000
“CX-117A晶振测试仪”详细介绍
CX-117A晶振测试仪/晶体测试仪/PPM测试仪
产品简介:
一、CX-117A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1~Pr8(ppm)、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。
具有PPM测量功能,预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业,测试结果显示直观。
主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计,功能设定


二、主要技术指标:
频率测量范围:0.1Hz—100MHz
频率测量灵敏度:30mv
PPm测量:3KHz—100MHz
PPm测量精度:≤1 PPm(1×10-6)
(可扩展0.1PPm,0.01 PPm)
中心频率:0 Hz—100 MHz任意设定
误差设置范围设定:±1—±999 PPm任意设定。
闸门设置:四档,0.01s、0.1s、1s三档固定,
1档闸门1ms—10s可设,
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围:100 ms—10 s
晶振稳定性:5×10-7/日
(可选 1×10-7/日,1×10-8/日)
时基频率:OCXO--10MC

三、特点:
微机控制,可编程器件开发,模块化设计
100MHz同步等精度测量方式
SMT贴装生产、工艺,全新小型化结构设计
9位LED显示
PPm提示功能

四、可选配:
晶体测量匹配器:32.768KHz-20MHz、20MHz-40MHz,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz.
“CX-117A晶振测试仪”其他说明
序号 名称 用途
1 电源开关 按下数字窗口10000.0000? KHz灯亮
2 复位键 按下刷新当前的操作
3 功能选择↑ 按下功能指示灯往下移动一位,灯亮表示仪器当前执行的测量状态
4 功能选择↓ ?按一下,往下移动一位,其余同上
5 闸门选择 按一下依次0.01s|,0.1s,1s循环
6 选择/确认键 按一下依次数据Fo,闸门,鸣叫循环
7 设置选择↑ 按一下确定位数据增加
8 设置选择↓ 按一下确定位数据减少
9 设置选择→ 按一下确定选择位右移/累计开始,停止
10 设置选择← 按一下确定选择位左移/累计清零
11 衰减选择键 按下时被测信号衰减10db
12 低通选择键 按下时KHz低通微波
13 A输入插座 接输入信号0.1Hz ~100MH z(当频率计使用)
14 B输入插座 接输入信号0.1Hz~100MHz(接测试盒使用)
15 KHz指示灯 灯亮所显示数据的单位为KHz
16 "ms" 指示灯 灯亮所显示数据的单位为ms
17 "ppm"指示灯 灯亮所显示数据的单位为ppm
18 数据显示窗口 九位LED数据显示
19 晶振指示灯 灯亮机内晶体振荡器工作
20 闸门指示灯 灯亮开始测量工作?? 灯灭数据处理
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