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创鑫CX-118A晶振测试仪

创鑫CX-118A晶振测试仪图片

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信息简介:创鑫CX-118A晶振测试仪

详细信息:
“创鑫CX-118A晶振测试仪”参数说明
是否有现货: 认证: 国家单位计量院
元器件种类: 电子元件测试仪 型号: CX-118A
规格: 118A 商标: 创鑫
包装: 纸箱 产地: 深圳
品牌: 创鑫 产量: 1000
“创鑫CX-118A晶振测试仪”详细介绍
CX-118型晶振测试仪1.概述CX-118型晶振测试仪使用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1~Pr8(ppm)、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。2.主要特征2.1本机采用倒数计数技术,测量精度高,测量范围宽,真正实现等精度测量,测量速度快,灵敏度高。2.2采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理,使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能/价格比。2.3整机采用大规模集成电路设计,CPLD器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了很大的提高,平均无故障工作时间≥10000h。整机外型美观大方,体积小,重量轻,使用方便。3.技术参数3.1测量范围频率测量:A通道:1Hz~100MHz;B通道:100MHz~1.6GHz(选件)周期测量:A通道:10ns~1sPPM测量:-9999~9999ppm上、下限测量:可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限,超限则报警。分档测量:根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。分档值:Pr1~Pr8可在1~999ppm之间任意设置分档档数:以中心频率F0为中点左右分成16档累加计数:计数容量:0~109-1(选件)计数方式:键控、门控或外门控可选。3.2输入特性输入阻抗:A通道:1MΩ//40pFB通道:50Ω3.2.2输入耦合方式:AC3.2.3波形适应性:正弦波、脉冲波输入电压动态范围:A通道:30mVrms~250Vp~pB通道:30mVrms~1Vrms3.2.5A通道低通滤波器:-3dB带宽约100kHz3.2.6A通道衰减:×1或×203.3测量误差3.3.1频率或周期测量误差:±时基误差±触发误差±LSD100ns其中:LSD=─────×被测频率(或被测周期)闸门时间触发误差:当被测信号的信噪比为40dB时,触发误差≤0.3%PPM测量误差:±时基误差±触发误差±LSD其中:LSD=(100ns/闸门时间)×106ppm例如:闸门时间=1s时LSD=0.1ppm闸门时间=0.1s时LSD=1ppm3.3.3计数误差:±13.4闸门时间固定闸门:10ms、100ms、1s、10s四档可选;可调闸门:50ms~95ms分10档,每档间隔5ms。3.5晶体振荡器标称频率:10MHz频率稳定度:5×10-6/d(可根据用户需求,选配更高量级的晶振。如:1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等)。3.6外频标输入输入频率:10MHz输入幅度:>1Vp~p正弦波3.7显示13位0.4吋绿色高亮数码管,三个单位LED指示灯(MHz、kHz、Hz),一个闸门LED指示灯(GATE),一个外频标LED指示灯(EXT)和一个PPM单位指示灯(PPM)。3.8电源电压:交流220V±10%频率:50Hz±5%功耗:<8VA3.9外形尺寸:230×250×90(mm)3.10质量:<1.5kg晶振测试盒选配:晶体测量匹配器:1Hz-20MHz(标配)20MHz-40MHz,40MHz-65MHz65MHz-100MHz.
“创鑫CX-118A晶振测试仪”其他说明
序号 产品名称 规格型号 单位
1 晶振测试仪 JC-3195
2 测试盒(夹具) 插件式
3 测试盒(夹具) 插件式
4 测试盒(夹具) 插件式

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